SDT-그린광학, 양자점 SWIR 카메라 공동 개발

SDT와 그린광학이 양자점 기술을 적용한 단파장적외선(SWIR) 카메라 시스템을 공동 개발한다. 900~1700나노미터 파장대에서 고해상도 영상 확보가 가능한 이 시스템은 국방과 산업 현장의 경쟁력 강화를 목표로 한다.

양자점을 기반으로 한 적외선 센서는 기존 기술 대비 소형화와 고성능화를 동시에 이룰 수 있는 차세대 기술로 평가받고 있다. 두 회사는 제품 개발뿐 아니라 글로벌 시장 진출을 위한 협력도 진행할 예정이다.