조현병 단기기억 장애 원인 규명…회로 자극으로 회복

1시간 전7
조현병 단기기억 장애 원인 규명…회로 자극으로 회복AI

청소년기 NMDA 수용체 기능 저하가 시상-전두엽 연결을 약화해 기억 장애를 유발한다는 연구 결과가 나왔다. 연구팀은 화학유전학으로 해당 회로를 활성화해 손상된 기억력을 정상 수준으로 되돌리는 데 성공했다. 기억 장애의 신경회로 표적 치료 가능성을 보여주지만 임상 적용은 추가 검증이 요구된다.

연구팀은 청소년기 NMDA 수용체 기능 저하가 시상과 전두엽의 연결을 약화해 기억 장애를 유발한다는 사실을 밝혀냈다고 전했다. 특히 단기기억 장애와 관련된 뇌 회로의 역할을 특정하는 데 초점을 뒀다.

연구팀은 화학유전학 기법으로 해당 뇌 회로를 활성화했으며, 손상된 기억력을 정상 수준으로 되돌리는 데 성공했다고 설명했다. 즉, 원인으로 지목된 기능 저하-회로 약화의 연계를 실험적으로 확인하고, 특정 회로 자극이 인지 기능에 미치는 영향을 확인한 셈이다.

이번 결과는 기억 장애의 신경회로 기반 설명을 강화하고, 치료 전략을 '회로 기능 회복'으로 확장할 가능성을 시사한다. 다만 사람 치료로의 전환 여부와 시기 등 임상 적용 전망은 추가 연구가 필요하다고 알려져 있다.

외신 보도·공개 데이터를 AI가 한국어 기사로 재구성하고, 사람이 최종 검수한 뒤 게재했습니다.

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